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不过，CCD元件的成本高，在高感光度下的表现不太好，而且功耗较大。CMOS的色彩饱和度和质感则略差于CCD，但芯片可以弥补这些差距。重要的是，CMOS具备硬件降噪机制，在高感光度下的表现要好于CCD，此外，它的读取速度也更快。这些特性特别适合性能较高的单反相机，因此目前市场中常见的单反数码相机几乎都采用了CMOS传感器。这些装备了CMOS传感器的数码相机甚至具备了拍摄全高清（FullHD）的能力，这是装备了CCD的数码相机目前无法到的。
检查称重传感电桥的各焊点是否有虚焊、焊现象，造成称重传感电桥不工作。检查称重传感器本身，看上面是否有异物或粘附脏物，阻碍了传感器产生性形变，致使有载荷作用加在传感器上时，性体不能正常产生性形变，使电阻应变片的电阻不发生变化，导致称重传感电桥没有称重信号输出。无称重载荷作用在电子计价秤上时，称重的显示值不为零，而且显示的数值不稳定，数值不停的在变化。此故障俗称显示有零漂、不归零和跳字，产生此故障的原因是：称重传感电桥的某一桥臂有虚接、焊现象，或者是某焊点有“接地”现象；检查电源电压是否稳定，如果电源电压的稳定性不好，也容易跳字。
红外摄像机因为无损检测使用的红外摄像机要以高灵敏度捕捉瞬变现象，因此需要有高时间分辨率的高帧速率。每个像素的空间分辨率由与红外摄像机一起使用的透镜所决定的空间分辨率视角决定，如要检测大型目标和精细区域，要使用高像素的红外摄像机。2.光激发无损检测-光学增强方法的基本原理为光激发无损检测装置概图。该方法分为所示的脉冲热成像和所示的锁相热成像两种。-脉冲热成像的基本原理脉冲热成像方法通过瞬间灯光激发使测量对象出现温度上升,在温度下降的过程中，通过图像显示正常位置和缺陷位置出现的温度变化和时间相位滞后。
本文将用两个实测案例，分析基于RSA36实现放射辐射和传导辐射的测试方法。放射辐射测量案例分析在预一致性测试中，使用了一米和几厘米两种距离。降低DUT（被测设备）与测试天线之间的距离会提高DUG信号强度与RF背景噪声之比。遗憾的是，近场结果并不会直接转换成EMI一致性测试中使用的远场测试，因此在得出结论时必须慎重增加预放是提升相对DUT信号电平的另一种好方法。天线的选择测量中使用了三台成本非常低的PC板对数周期天线和一台双锥天线。
直流电源是输出方向不变的直流电的设备，主要用来为电路稳定的激励，是电子类应用中使用 为广泛的设备之一。直流电源都具有一定的输出量程，通常来说，用户可以通过手动按键或者调整旋钮在量程范围内调节输出参数，以便满足不同应用所需的电压或电流。我们可以看到，下图中的AMETEKSorensenSG系列直流电源的前面板有便捷的按键或旋钮,可便捷的设置输出参数。但是在一些应用中，需要特定的输出变化的激励源或者测试待测物在变化的激励条件下的响应特性，这就对电源的提出的新的要求，需要电源随时间变化的电压波形或电流波形，甚至是功率波形。
举例来说，关在一个短时间内施加一个电压到感应电极上对其充电，之后关断，第二个关再将电极上的电荷释放到更大的一个采样电容中。人手指的触摸增大了电极的电容，导致传输到采样电容上的电荷增加，采样电容因此改变，据此就能得出检测结果。QT器件在突发模式采样之后即进行数字信号，这种方法能比竞争方案更高的动态范围和更低的功耗，而自动校准例程可以补偿因为环境条件改变带来的漂移。更重要的是，这种方法足够灵敏，在电流透过厚的面板时不需要一个参考地连接，因此适合电池供电的设备。
噪声噪声是关电源自身产生一种高频脉冲串，由发生在关导通与截止瞬间产生的尖脉冲所造成，噪声的频率比关频率高的多，噪声电压的大小很大程度上与关电源的拓扑、变压器的绕制、电路中的寄生参数、测试时外部的电磁环境以及PCB的布线设计有关。基于此，纹波和噪声的区分就很好理解了。下面始讨论测量。不同示波器测试结果相差的原因如果不同示波器之间的差别很大，一般是如下几个原因：未使用20M带宽限制不同的带宽引入的噪声值不同，噪声值会直接影响Pk-Pk值测量。
